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菲希爾XAN215 FISCHER

菲希爾XAN215 FISCHER

簡要描述:
菲希爾XAN215 FISCHER,菲希爾代理,F(xiàn)ISCHER鍍層測厚儀,菲希爾臺式測厚儀

更新時間:2024-08-16

訪問量:567

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,綜合

菲希爾XAN215 FISCHER

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215無錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線測厚儀是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法,可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

通用規(guī)格
設(shè)計用途

采用能量色散型X射線熒光光譜法(EDXRF),

用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度

元素范圍從元素氯(17)到鈾(92),可同時測定24種元素。
重復(fù)性測量金元素時≤1‰,測量時間60秒
形式設(shè)計臺式儀器,測量門向上開啟
測量方向由下往上
X射線源
X射線管帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓三檔:30KV,40KV,50KV
孔徑(準(zhǔn)直器)φ1mm;可選φ2mm
測量點尺寸當(dāng)測量距離MD=0mm時,測量點直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器

能量分辨率

(Mn元素Kα半高寬)

≤180eV
測量距離0...10mm
通過DCM測量距離補償法,可在不同測量距離上不需要重新校準(zhǔn)就能進行測量;對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量,可能需要進行額外的校準(zhǔn)。


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