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Fischerscope X-RAY XAN250/252

Fischerscope X-RAY XAN250/252

簡要描述：
Fischerscope X-RAY XAN250/252，高性能X射線熒光測量儀，配有非常先進的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

更新時間：2024-03-19

訪問量：492

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進口應用領域環(huán)保,制藥,綜合

Fischerscope X-RAY XAN250/252

FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀特點：

  1. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器高性能機型，具有強大的綜合測量能力

  2. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

  3. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析

  4. 由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位

FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀典型應用領域：

  1. 對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

  2. 對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

  3. 在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析

  4. 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域

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