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菲希爾X熒光射線鍍層測厚儀

菲希爾X熒光射線鍍層測厚儀

簡要描述:
菲希爾X熒光射線鍍層測厚儀,取決于測量距離和孔徑大小,實際的量點大小與視頻。窗口中顯示的一致,小測量點大小:約為φ0.51mm

更新時間:2024-03-13

訪問量:555

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
產地類別進口應用領域環(huán)保,制藥,綜合

菲希爾X熒光射線鍍層測厚儀

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-ray通用規(guī)格

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-ray設計用途

能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXRF),

用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分

可測量元素范圍

可同時測定從氯(17)到鈾(92)中的24中元素

(使用選配的WinFTM®BASIC軟件時)

形式設計 臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向 由上往下

X射線源

X射線管 熱穩(wěn)定鎢靶射線管

高壓 三檔:30KV、40KV、50KV

孔徑(準直器) φ0.3mm;可選長方形0.3x0.05mm

基本濾片 固定

測量點尺寸

取決于測量距離和孔徑大小,實際的量點大小與視頻

窗口中顯示的一致,小測量點大小:約為φ0.51mm

X射線探測

X射線探測器 比例接收器

測量距離 0...25mm,使用DCM測量距離補償法

樣品定位

樣品放置 手動

視頻系統

CCD彩色攝像頭,可沿著初級X射線

光束方向,手動聚焦,對被測位置進行監(jiān)控

十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸)

可調節(jié)亮度的LED照明

圖像放大倍率 40x~160x

計算單元

計算機 Windows®PC

軟件 標準:FISCHER WinFTM®LIGHT

可選:FISCHER WinFTM®BASIC,PDM®,SUPER

工作臺

形式設計 手動XY軸工作臺

樣品放置可用區(qū)域 310x320mm

X/Y軸工作臺移動范圍 30x40mm

樣品允許重量 2KG

樣品允許高度 174mm

電氣參數

電源要求

交流220V,50HZ

功耗 120W(不包括計算機)

保護等級 IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸(寬x深x高) 403x588x444mm

重量 大約45KG

環(huán)境要求

菲希爾X射線測厚儀FISCHER無錫駿展儀器使用時溫度 10℃~40℃

菲希爾X射線測厚儀FISCHER無錫駿展儀器存儲或運輸時溫度 0℃~50℃

菲希爾X射線測厚儀FISCHER無錫駿展儀器空氣相對濕度 ≤95%,無結露

執(zhí)行標準

CE合格標準 EN 61010

X射線標準 DIN ISO 3497和ASTM B 568

形式標準

符合德國"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定


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